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J-GLOBAL ID：201702238849350486   整理番号：17A0145866

故障の物理に基づく電子製品のための可試験性検証試験計画の補正法【Powered by NICT】

Correction method of testability verification test plan for electronic product based on physics of failure

著者 (4件)： Chen Chen (Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China) ,  Zeng Zhao-Yang (Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China) ,  Jiang Jue-yi (Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China) ,  Ma Xiao-Long (Sub Unit 81, PLA Unit 77251, Kaiyuan, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： PHM (Chengdu)  ページ： 1-6  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 可試験性検証試験計画を設計するために伝統的な方法である故障モード影響解析データの精度に大きく依存する。多ピンチップのための試験計画を設計する場合には,参照の欠如である。,経験的に設計した,このような試験計画は,試験中の損傷生成物のリスクをもたらすだけでなく,不正確な試験結果と評価結果につながる可能性がある。,破壊技術の物理学の導入により,本論文では,可試験性検証中の試験統計計画と故障注入計画の定式化と最適化のための合理的な基礎を提供する故障情報行列,電子製品の故障解析結果の一つ,を形質転換し,用いた。そこで,可試験性検証試験計画のための補正法,電子製品のための可試験性設計のレベルの正確なおよび客観的検証と評価の基礎を築くを提案した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 形質転換 ,  FMEA ,  最適化 ,  *可試験性 ,  *故障 ,  故障解析 ,  定式化
準シソーラス用語： 故障注入 ,  *試験計画 ,  *補正法 ,  *検証試験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (7件)： 故障 ,  物理 ,  電子製品 ,  可試験性 ,  検証試験 ,  計画 ,  補正法