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J-GLOBAL ID：201702240186607666   整理番号：17A0747984

マルチセンサハイパースペクトルイメージングのための新規基質【Powered by NICT】

A novel substrate for multisensor hyperspectral imaging

著者 (8件)： OFNER J. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria) ,  KIRSCHNER J. (TU Wien, Institute of Solide State Physics, Vienna, Austria) ,  EITENBERGER E. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria) ,  FRIEDBACHER G. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria) ,  KASPER-GIEBL A. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria) ,  LOHNINGER H. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria) ,  EISENMENGER-SITTNER C. (TU Wien, Institute of Solide State Physics, Vienna, Austria) ,  LENDL B. (TU Wien, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna, Austria)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 265  号： 3  ページ： 341-348  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 特にマルチセンサハイパースペクトルイメージングと化学イメージングの品質は,試料調製技術と機器インフラストラクチャにも適切なイメージング基板の選択に強く依存した。Raman顕微分光,走査電子顕微鏡及びエネルギー分散型X線分光法の複合イメージングを最適化するために,新しい基板は,古典的な顕微鏡スライド上に高度に精製されたアルミニウムのスパッタリングに基づいて開発した。新しいアルミニウム基板は,基板材料の不純物と表面の汚染,並びに表面粗度と均一性のような古典的基質のいくつかの欠点を克服する。,種々のハイパースペクトル画像技術のための優れた条件を提供し,サブミクロンの横方向分解能での高品質マルチセンサハイパースペクトル化学イメージングを可能にする。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 最適化 ,  試料調製 ,  走査電子顕微鏡 ,  *基質 ,  分解能 ,  不純物 ,  エネルギー散逸 ,  *画像処理 ,  表面性状 ,  X線分光法 ,  品質 ,  電子顕微鏡観察 ,  アルミニウム ,  顕微Raman分光法
準シソーラス用語： 化学イメージング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 電子顕微鏡観察 ,  エネルギー分散型X線分光法 ,  基板イメージング ,  マルチセンサハイパースペクトルイメージング ,  Raman顕微分光法

分類 (3件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (1件)： 基質