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J-GLOBAL ID:201702240748669991   整理番号:17A0118156

誘電体堆積過程におけるプラズマ診断【Powered by NICT】

Plasma diagnostics in dielectric deposition processes
著者 (2件):
資料名:
巻: 2016  号: SENSORS  ページ: 1-3  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,その場プラズマプローブ,堆積過程の困難な環境において正確に測定することができる,を提示した。臨界パラメータ,プロセス制御に必要なを決定するために,プローブをプラズマ中に挿入した。プローブ上に吸着した,堆積した誘電体材料の影響を3次元電磁場シミュレーションによる多数の擬堆積プロセスの範囲で調べた。,吸着材料は二種類の損失正接の相対誘電率と層厚さで変化させた。対応する評価は,適合性とこれらのシミュレーション内のプローブの可能性を実証した。TiO_2を析出させ,アルゴン-酸素プラズマにおける最終測定はプローブの非感受性を確認した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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誘電体一般  ,  絶縁材料  ,  誘電体測定技術・装置 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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