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J-GLOBAL ID：201702242145849748   整理番号：17A0067751

LOAD PULLシステムの高周波試験誤差解析と新しい試験計画【JST・京大機械翻訳】

The Measurement Error Analysis of Load Pull System of High Frequency and the Novel Measure Method

著者 (6件)： Wang Zhensheng (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Zheng Weibin (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Wang Weibo (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Tao Hongqi (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Qian Feng (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Xu Bo (Nanjing Electronic Devices Institute)
資料名： Guti Dianzixue Yanjiu yu Jinzhan  (Guti Dianzixue Yanjiu yu Jinzhan)
巻： 36  号： 4  ページ： 312-317  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2084A  ISSN： 1000-3819  CODEN： GDYJE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 負荷牽引(LOAD)試験システムは複雑なマイクロ波試験システムであり、異なる周波数帯で異なる実現方案と試験誤差がある。本論文では,システムの高周波試験誤差の理由を解析し,システムの高周波試験精度を改善するための新しい試験方式を提案した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *誤差解析 ,  マイクロ波 ,  *HF【周波数】 ,  周波数帯

著者キーワード (3件)： load pull ,  high frequency load pull on wafer ,  millimeter microwave load pull

分類 (4件)： アンテナ  (ND06000M) ,  移動通信  (ND08030H) ,  データ通信  (ND11040A) ,  無線通信一般  (ND08010L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高周波 ,  試験 ,  誤差解析 ,  試験計画