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J-GLOBAL ID：201702242480735227   整理番号：17A0735465

赤外線焦点面読み出し回路の放射特性の研究【JST・京大機械翻訳】

Radiation effects study of readout IC for the infrared focal plane arrays

著者 (5件)： LIN Jia-mu (Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  DING Rui-jun (Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  CHEN Hong-lei (Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  SHEN Xiao (Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  LIU Fei (Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences)
資料名： Jiguang yu Hongwai  (Jiguang yu Hongwai)
巻： 39  号： 8  ページ： 868-871  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2073A  ISSN： 1001-5078  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 赤外焦点面アレイは宇宙空間で使用される場合、各種放射により性能劣化、機能障害に至る。赤外焦点面アレイの重要な構成部分として、CMOS読出し回路は各種放射線が主に電離放射線効果を体現する。対紅外焦平面CMOS読出し回路による空間シミュレーション実験を行い、読み出し回路の機能及び性能パラメータを測定し、放射が読み出し回路に与える影響を研究した。実験結果は,赤外線焦点面のCMOS読出し回路の耐放射線設計のための参照を提供した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電離放射線 ,  *放射特性 ,  機能障害 ,  *赤外線 ,  CMOS ,  宇宙空間 ,  放射線
準シソーラス用語： 性能劣化 ,  焦点面アレイ ,  *読出回路 ,  *焦点面 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： infrared focal plane arrays ,  readout integrated circuit ,  radiation effect

分類 (4件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W) ,  半導体薄膜  (BK14040E) ,  その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外線 ,  焦点面 ,  読み出し回路 ,  放射特性 ,  研究