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J-GLOBAL ID：201702246459317555   整理番号：17A0105114

4値パルスパラメータモデルに基づく単一粒子過渡伝搬機構とソフトエラー率解析法【JST・京大機械翻訳】

Propagation Mechanism of Single Event Transient and Soft Error Rate Analysis Method Based on Four-value Pulse Parameters Model

著者 (4件)： Li Yue (Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences) ,  Cai Gang (Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences) ,  Li Tianwen (Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences) ,  Yang Haigang (Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences)
資料名： Dianzi yu Xinxi Xuebao  (Dianzi yu Xinxi Xuebao)
巻： 38  号： 8  ページ： 2113-2121  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2507A  ISSN： 1009-5896  CODEN： DKXUEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： プロセスサイズの縮小とともに,単一粒子過渡(SET)効果に起因するソフトエラーは,宇航用深亜のVLSI回路の信頼性に影響を及ぼす主要な脅威になった。しかし,SETパルスの発生と伝搬は,回路のソフトエラー研究の焦点となっている。論理リンクにおけるSETパルスの伝搬を研究した。パルス立ち上がり時間と下降時間の差異は出力パルス幅の広がりと減衰を引き起こすことができる。パルスの幅と幅はゲートの電気効果によって遮蔽されるかどうかを決定する。本論文では,SETのパルス形状を正確にシミュレートするために,4値パルスパラメータモデルを提案し,回路におけるSETパルスの伝搬をシミュレーションするために,ルックアップテーブルと経験式を結合した。本論文で提案した四値パルスパラメータモデルは,伝播過程におけるSETパルスの広がりと減衰効果をシミュレーションすることができ,単一パラメータパルスモデルと比較して2.4%の計算精度を改善した。本論文では,グラフに基づく故障伝搬確率アルゴリズムを用いて,SETのパルス伝搬過程における論理的遮蔽をシミュレーションし,回路のソフトエラー率を迅速に計算することができた。ISCAS’89とISCAS’85の回路を分析した。この方法とHSPICEシミュレーション法の平均偏差は4.12%であり,計算速度は10000倍であった。この方法は,大規模集積回路のソフトエラー率を迅速に分析することができる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ルックアップテーブル ,  *パルス ,  実験式 ,  *ソフトエラー ,  計算機処理速度 ,  超LSI ,  パルス幅 ,  LSI【IC】 ,  パルス伝搬 ,  計算精度 ,  *単一粒子
準シソーラス用語： HSPICE ,  確率アルゴリズム ,  立上り時間 ,  *ソフトエラー率 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Very Large Scale Integration (VLSI) ,  Soft error rate ,  Single Event Transient (SET) ,  Four-value pulse parameters ,  Error propagation probability

分類 (4件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  論理回路  (NC05070B) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (6件)： パルス ,  パラメータモデル ,  単一粒子 ,  伝搬 ,  ソフトエラー率 ,  解析法