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J-GLOBAL ID：201702246580709250   整理番号：17A0317271

マスクされたAESに対する新しい0値攻撃複合故障感度解析【Powered by NICT】

A new zero value attack combined fault sensitivity analysis on masked AES

著者 (5件)： Wang Qian (Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Wang Qian (University of Maryland, College Park, MD 20740, United States) ,  Wang An (Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Wu Liji (Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Zhang Jiliang (Software College, Northeastern University, Shenyang 110819, China)
資料名： Microprocessors and Microsystems  (Microprocessors and Microsystems)
巻： 45  号： PB  ページ： 355-362  発行年： 2016年 
JST資料番号： H0781A  ISSN： 0141-9331  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近,新しい種類の故障感度解析(FSA)と呼ばれるフォールトベース・攻撃が提案されて,従来の微分故障攻撃(DFA)に比べて大きな利点を有している。しかし,マスキング対策は元のFSA攻撃に耐えることができた。本論文では,まず,マスクされたAESにおける零値感度モデルを見出し,零値攻撃と組み合わせた新しいFSA法,マスクされたAES Sボックスを破壊を提案した。零値法をさらに確認するために,ハードウェアに実装されたマスクされたAESで行い成功した攻撃実験。実験結果との比較は,零値攻撃方法であるただ1つのクロック周波数で1回実験を設定による秘密鍵を検索するために他のFSA法よりも効率的であることを確認した。さらに,零値法のオフライン計算は相関係数計算を除去することにより節約されると,重要な推測過程における2~8倍検索もこの方法で省略されている。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *感度解析 ,  ハードウェア ,  相関係数 ,  微分 ,  マスキング ,  暗号鍵 ,  *故障
準シソーラス用語： オフライン ,  クロック周波数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 故障感度解析 ,  0値攻撃 ,  マスキング ,  AES

分類 (1件)： 符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： マスク ,  AES ,  攻撃 ,  故障 ,  感度解析