文献

J-GLOBAL ID：201702247492867362   整理番号：17A0401907

適応画素投影強度調整による光沢表面のための3次元形状測定技術【Powered by NICT】

Three-dimensional shape measurement technique for shiny surfaces by adaptive pixel-wise projection intensity adjustment

著者 (13件)： Lin Hui (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Lin Hui (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Lin Hui (School of Physics and Mechatronics Engineering, Shaoguan University, Shaoguan 512005, China) ,  Gao Jian (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Gao Jian (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Mei Qing (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Mei Qing (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Zhang Guanjin (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Zhang Guanjin (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  He Yunbo (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  He Yunbo (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Chen Xin (Key Laboratory of Mechanical Equipment Manufacturing and Control Technology of Ministry of Education, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China) ,  Chen Xin (Guangdong Provincial Key Laboratory of Computer Integrated Manufacturing, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, China)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 91  ページ： 206-215  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光沢のある表面の三次元(3D)形状測定を得る場合に干渉縞パターン画像の画素の絶対灰色レベルの分析に基づく従来の方法は,雑音画像飽和,相互反射,及び高感度の問題によって影響される。本研究はロバスト,適応,高速3次元形状測定法,投影パターンの画素強度を調整する適応を提案し,画像飽和を回避し,光沢のある表面のための3D形状測定時の雑音比(SNR)と高い信号を持っている。多重露光および多重強度のある干渉縞パターンの投影を用いた以前の時間のかかる方法と比較して,多数の干渉縞パターンの画像を捕捉する必要があるが,提案した方法は測定のためのはるかに少ないパターン画像を取得する必要がある。添加では,大きく均一なグレイレベルパターンと座標マッピングの融合による最適射影強度を得るための時間コストを低減することができる。著者らの実験結果は,提案した技術は,光沢のある表面のための高精度で効率的な3次元形状測定を達成できることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 干渉縞 ,  ロバスト性 ,  射影 ,  画像 ,  高速度 ,  三次元 ,  雑音 ,  多重露光 ,  *形状測定 ,  高感度 ,  *画素 ,  多重化
準シソーラス用語： 高精度 ,  *三次元形状測定 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 高ダイナミックレンジ ,  光沢表面 ,  3D形状測定 ,  構造化光

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 適応 ,  画素 ,  投影 ,  光沢 ,  3次元形状測定