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J-GLOBAL ID：201702248704983645   整理番号：17A0403167

Si(001)上の準一次元希土類シリサイドナノ構造の光学的異方性【Powered by NICT】

Optical anisotropy of quasi-1D rare-earth silicide nanostructures on Si(001)

著者 (6件)： Chandola S. (Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften - ISAS - e.V., Schwarzschildstrasse 8, 12489 Berlin, Germany) ,  Speiser E. (Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften - ISAS - e.V., Schwarzschildstrasse 8, 12489 Berlin, Germany) ,  Esser N. (Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften - ISAS - e.V., Schwarzschildstrasse 8, 12489 Berlin, Germany) ,  Appelfeller S. (Institut fuer Festkorperphysik, Technische Universitaet Berlin, Hardenbergstrasse 36, 10623 Berlin, Germany) ,  Franz M. (Institut fuer Festkorperphysik, Technische Universitaet Berlin, Hardenbergstrasse 36, 10623 Berlin, Germany) ,  Daehne M. (Institut fuer Festkorperphysik, Technische Universitaet Berlin, Hardenbergstrasse 36, 10623 Berlin, Germany)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 399  ページ： 648-653  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 希土類金属はSi(001)表面と強く相互作用する異なるタイプのシリサイドナノ構造を形成することが知られている。微斜面Si(001)上のDyとTbシリサイドナノ構造を特性化構造的にSTMを用いて,反射異方性分光法(RAS)は半導性二次元ぬれ層と金属一次元ナノワイヤの形成を明確に区別する光学的指紋法として用いることができることを示した。,明確なスペクトルの特徴はナノ構造の構造単位に関連付けることができた。TbとDyナノ構造のRASスペクトルは,類似した特徴を示すことが分かった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： フィンガープリント法 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  ジスプロシウム ,  *一次元 ,  テルビウム ,  *ケイ化物 ,  半導性 ,  ナノワイヤ ,  キャラクタリゼーション ,  *ナノ構造 ,  二次元 ,  微斜面 ,  *ケイ素
準シソーラス用語： 反射異方性分光法 ,  *光学異方性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Si(001) ,  希土類 ,  Nanowires ,  光学異方性 ,  走査型トンネル顕微鏡法

分類 (3件)： その他の無触媒反応  (CB06070U) ,  酸化物薄膜  (BK14050P) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

タイトルに関連する用語 (5件)： Si ,  希土類 ,  シリサイド ,  ナノ構造 ,  光学的異方性