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J-GLOBAL ID:201702249110481882   整理番号:17A0239352

SPAD検出器とFPGA処理に基づく低コスト蛍光寿命計測システム【Powered by NICT】

A low cost fluorescence lifetime measurement system based on SPAD detectors and FPGA processing
著者 (6件):
資料名:
巻: 2016  号: DCIS  ページ: 1-6  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,短時間で,医療相談に使用できる携帯型システムにおけるラベル検出による迅速診断試験を行うことを目的とした,低コスト蛍光寿命時間測定システムを提案した。システムは,時間相関単一光子計数(TCSPC)を使用し,個々の光子の到着時間を測定と時間のヒストグラムを構築し,各蛍光物質の特徴である標識の蛍光減衰を示した。システムを実験を制御し,ピコ秒の第十のオーダーの分解能で測定を行うためのディジタル変換器(TDC)までの時間を含むXilinx FPGAを用いて実装した。レーザダイオードと短パルス高利得センサとしてHV-CMOS実装単一光子アバランシェダイオード(SPAD)を生成する駆動エレクトロニクスである。システムは完全に構成可能なので,標的標識分子と測定ニーズにも容易に適用可能である。ヒストグラムはFPGA内に構築し,便利なとして読むことができる。種々の性能パラメータも示し,証明概念としての量子ドット蛍光減衰の実験的測定。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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測光と光検出器一般 
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