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J-GLOBAL ID：201702251871115414   整理番号：17A0407140

ガンマ線遮蔽材料の開発のためのほう酸塩亜テルル酸塩けい酸塩ガラス系におけるBi_2O_3の影響【Powered by NICT】

Effect of Bi₂O₃ in borate-tellurite-silicate glass system for development of gamma-rays shielding materials

著者 (3件)： Issa Shams A.M. (Physics Department, Faculty of Science, Al-Azhar University, Egypt) ,  Issa Shams A.M. (Physics Department, Faculty of Science, University of Tabuk, Saudi Arabia) ,  Mostafa A.M.A. (Physics Department, Faculty of Science, Al-Azhar University, Egypt)
資料名： Journal of Alloys and Compounds  (Journal of Alloys and Compounds)
巻： 695  ページ： 302-310  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0083A  ISSN： 0925-8388  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,50 55 60 65 70および75wt%は,放射線遮蔽のために調製されているBi_2O_3は組成xBi_2O_3-(80 x)B_2O_3 5TeO_2~ 15SiO_2におけるガラス系に基づく。放出ガンマ線は3×3インチNaI(Tl)シンチレーション検出器で検出した。得られた結果は,ガラスの質量減衰係数(μ_m),有効原子数(Z_eff)と有効電子密度(N_el)の値はBi_2O_3濃度の増加と共に増加し,光子エネルギーの増加と共に減少することを示した。ガラスの半価層(HVL)の値はBi_2O_3含有量の増加に伴って減少することが分かった。実験結果は,全てのガラス試料についてXcom値とよく一致することを観測した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電子密度 ,  放射線遮蔽 ,  *ホウ酸塩 ,  *ガラス ,  *ケイ酸塩ガラス ,  ヨウ化ナトリウム ,  シンチレーション検出器 ,  *γ線
準シソーラス用語： 半価層 ,  光子エネルギー ,  原子数 ,  質量減衰定数 ,  *亜テルル酸塩 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 有効原子数 ,  Bi_2O_3 ,  10値層 ,  酸化物ガラス ,  放射線遮蔽

分類 (1件)： ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z)

タイトルに関連する用語 (6件)： ガンマ線 ,  遮蔽材 ,  開発 ,  ほう酸塩 ,  亜テルル酸塩 ,  けい酸塩ガラス