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J-GLOBAL ID：201702252683968297   整理番号：17A0296381

4種類の粗さアルミニウム板の2.52THZ後方散乱後方散乱測定【JST・京大機械翻訳】

Measurement of 2.52THz Back Scatteringin Aluminium Plates with Four Kinds of Roughness

著者 (5件)： Fan Changkun (National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser,Harbin Institute of Technology) ,  Li Qi (National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser,Harbin Institute of Technology) ,  Zhou Yi (National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser,Harbin Institute of Technology) ,  Zhao Yongpeng (National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser,Harbin Institute of Technology) ,  Chen Deying (National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser,Harbin Institute of Technology)
資料名： Jiguang Yu Dianzixue Jinzhan  (Jiguang Yu Dianzixue Jinzhan)
巻： 53  号： 11  ページ： 111201-1-111201-6  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2698A  ISSN： 1006-4125  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： テラヘルツ散乱特性は,テラヘルツ波散乱の性能を評価するための重要な指標である。ビーム幅が約100MMの屏蔽Cangを持つ2.52THZターゲット散乱測定システムを構築した。このシステムを用いて粗さRAが1.6,3.2,6.3,12.5ΜM,幅が40MMと45MMのLv方板について後方散乱の測定実験を行った。データの分析と理論式との比較により,このシステムの実現可能性を検証した。実験結果によると、同じサイズの異なる粗さのアルミニウム板の後方散乱の最大値の変化は小さく、粗さの増大に伴い、後方散乱は高点から下がり、傾きは増大する傾向がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *散乱 ,  テラヘルツ波 ,  *後方散乱
準シソーラス用語： 散乱特性 ,  *散乱計測 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： measurement ,  scattering ,  terahertz ,  roughness

分類 (1件)： 電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (2件)： アルミニウム板 ,  後方散乱