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J-GLOBAL ID：201702254260596728   整理番号：17A0388775

ナノスケールでの光電子デバイスの同時トポグラフィー,電気的および光学的顕微鏡法【Powered by NICT】

Simultaneous topographical, electrical and optical microscopy of optoelectronic devices at the nanoscale

著者 (11件)： Kumar Naresh (National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex, UK TW11 0LW. [e-mail] [e-mail]) ,  Zoladek-Lemanczyk Alina ,  Guilbert Anne A. Y. ,  Su Weitao ,  Tuladhar Sachetan M. ,  Kirchartz Thomas ,  Schroeder Bob C. ,  McCulloch Iain ,  Nelson Jenny ,  Roy Debdulal ,  Castro Fernando A.
資料名： Nanoscale  (Nanoscale)
巻： 9  号： 8  ページ： 2723-2731  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2323A  ISSN： 2040-3364  CODEN： NANOHL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノスケール形態と局所化学組成は性能に重要な新しいオプトエレクトロニクスデバイスは,複雑なナノ材料システムに依存している。しかし,ナノスケールでこれらの構造-特性関係を,直接プローブできることを分析法の欠如は,デバイス開発への主要な障害となっている。本研究では,プラズモニック光信号強化を組合せる電気モード走査型プローブ顕微鏡により<20nmの空間分解能で形態,化学組成および光電特性の非破壊,同時マッピングのための新しい方法を示した。はこの組み合わせアプローチは,すべての三次元空間におけるナノスケール分解能で分子情報を提供するために利用できることを地下感度を提供することを示した。有機太陽電池デバイスへの技術を適用することにより,推定された表面と表面下組成分布は局所光電流発生と強く相関し,マクロスケールの素子性能を説明することを示した。例えば,フラーレン相純度の直接測定は強い光電流発生と収集をもたらす貧弱な性能と低純度凝集体(高分子をインターカレートしたフラーレン)をもたらす高純度凝集体を区別することができる。はナノスケールでの構造-特性関係の信頼できる決定すれば,巨視的な素子データからあいまいさを除去し,デバイス最適化のための最適経路の同定を支援することができることを示した。ここで示したマルチパラメータ測定法は,ナノ材料に基づく光電子デバイスの合理的設計を誘導する重要な役割を果たすことが期待され,全範囲走査型プローブ顕微鏡モードのナノスケール光学分光法の組合せによる先進研究の可能性の新しい領域を開くである。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ナノ材料 ,  最適化 ,  純度 ,  分解能 ,  電流発生 ,  空間分解能 ,  *顕微鏡観察 ,  化学組成 ,  光電流 ,  フラーレン
準シソーラス用語： 有機太陽電池 ,  *光電気 ,  構造特性相関 ,  *光電子デバイス ,  *ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F) ,  塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノスケール ,  光電子デバイス ,  トポグラフィー ,  光学的顕微鏡