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J-GLOBAL ID:201702254310225569   整理番号:17A0533402

C/SIC材料疲労試験負荷周波数の数値的研究【JST・京大機械翻訳】

Numerical investigation of the loading frequency for fatigue test of C/SiC materials
著者 (4件):
資料名:
巻: 29  号:ページ: 985-991  発行年: 2016年 
JST資料番号: W1501A  ISSN: 1004-4523  CODEN: ZXUEEA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
抄録/ポイント:
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材料のS-N曲線と構造の動的応力応答は音響疲労寿命評価の二つの要素であり、熱構造材料C/SICのS-N曲線は強い周波数依存性がある。典型的C/SIC材料の疲労寿命評価のためのS-N曲線を得るために,ランダム信号の水平横断問題を解析し,そして,ランダム信号の正の傾斜角の計算式を導き出した。信号の統計的平均周波数を,ランダム信号の正の傾斜零点によって特性評価して,パワースペクトル密度関数によって直接計算することができた。音響負荷の下でのC/SIC強化パネルの数値シミュレーションを行い,3つの典型的部分の動的応力応答の平均周波数の最大値は532HZであり,そして,数値的用例は,正の傾斜のゼロそのため、この構造の寿命評価の前に、材料のS-N曲線を測定することは、試験の負荷周波数をできるだけ532 HZに近づけるべきである。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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光導波路,光ファイバ,繊維光学  ,  光通信方式・機器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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