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J-GLOBAL ID：201702254700071531   整理番号：17A0889900

磁場測定による電流推定に基づくVLSI電力供給ネットワークの解析【Powered by NICT】

Analysis of VLSI power supply network based on current estimation through magnetic field measurement

著者 (4件)： Oda Yuki (Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo) ,  Iizuka Tetsuya (Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo) ,  Nakura Toru (Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo) ,  Asada Kunihiro (Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SAS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高信頼性を要求する現代のVLSIシステムは安定した電力供給を提供するために注意深く設計電力/接地ネットワークを必要とする。電源接続はテープアウト前に検証したが,製造後のその実際の品質と信頼性を評価するために非常に困難である。LSIからの磁場放出の測定に基づく電力供給ネットワークを評価するための新しい方法を提案した。提案した方法は,磁場測定結果から実際の電流の流れを推定し,低コストでによる/ワイヤ切断および/または電流集中のような欠陥あるいは設計欠陥を見出すことが可能である。電磁界シミュレータを用いた実験結果は,提案した方法が供給ネットワークにおける電流の流れを正確に予測するとによる故障点標定を明確に示していることを実証した。提案手法実測結果の実現可能性を検証するために,テスト構造は,0.18μmの1P5M CMOSプロセスで設計し,作製した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： テスト構造 ,  *LSI【IC】 ,  *電力供給 ,  接地 ,  *磁場測定 ,  *磁場 ,  *ネットワーク ,  *電流 ,  故障点標定 ,  信頼性 ,  *超LSI ,  金属線 ,  *電力
準シソーラス用語： 電流集中 ,  高信頼性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 磁場測定 ,  推定 ,  VLSI ,  電力供給 ,  解析