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J-GLOBAL ID：201702254944214532   整理番号：17A0057915

ガラス中蛍光とその熱信頼性を用いた高出力白色LEDパッケージング【Powered by NICT】

High-power white LED packaging using phosphor-in-glass and its thermal reliability

著者 (5件)： Peng Yang (School of Mechanical Science and Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Li Ruixin (State Key Laboratory of Silicate Materials for Architectures, Wuhan University of Technology, Wuhan, China) ,  Cheng Hao (School of Mechanical Science and Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Chen Zhen (School of Mechanical Science and Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Chen Mingxiang (School of Mechanical Science and Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： SSLChina  ページ： 17-19  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,高出力白色発光ダイオード(WLED)包装用黄色YAG:Ce~3+に基づくPiGを提案し,その熱安定性を系統的に調べた。PiGはスクリーン印刷と低温焼結によるほうけい酸ガラスに埋め込まれた黄色YAG:Ce~3+蛍光体を導入することにより作製した。PiGの熱劣化試験を行い,従来の蛍光体におけるシリコーン(PiS)と比較した。200°C,500hの時効後,PiGの光ルミネセンス(PL)強度はわずか4.3%であり,26.2%のPiSよりもはるかに小さいにより減少した。添加PiGベースWLEDはPiGの種々の時効条件下で安定な光学性能を達成した。エージングの結果は調製したPiGは優れた熱抵抗特性,PiGベースWLEDの優れた熱信頼性を誘導することを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光ルミネセンス ,  熱安定性 ,  蛍光体 ,  *信頼性 ,  熱抵抗 ,  スクリーン印刷 ,  熱劣化 ,  *ガラス ,  時効 ,  ホウケイ酸ガラス ,  *蛍光
準シソーラス用語： 低温焼結 ,  *白色LED ,  *高出力 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 無機化合物のルミネセンス  (BM08093J) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (5件)： ガラス ,  蛍光 ,  高出力 ,  白色LED ,  パッケージング