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J-GLOBAL ID：201702255229612786   整理番号：17A0756720

品質損失関数に基づく管理図に関する研究【Powered by NICT】

A study on the control charts based on quality loss function

著者 (2件)： Li Suyi (School of Management & Economics, Beijing Institute of Technology, China) ,  Wang Wenjia (Customer Working Department, China Association for Quality, Beijing, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IEEM  ページ： 1933-1937  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 損失関数は数十年間よく研究されてきた。幾人かの研究者は,損失関数を用いた経済的管理図を設計したが,管理図を構築直接損失関数を用いたものはほとんどない。品質損失関数の概念に基づく管理図の新しいクラスを提案した。チャートは,単変量および多変量プロセスに使用でき,それらはShewhart管理図より敏感であった。もう一つの利点は,損失関数チャートをコストに品質性能をリンクさせることができるので,異なるプロセスの性能は,同じスケールで比較することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *品質 ,  *損失関数 ,  *管理図

分類 (1件)： 統計的品質管理  (KB04030W)

タイトルに関連する用語 (3件)： 損失関数 ,  管理図 ,  研究