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J-GLOBAL ID：201702257286731520   整理番号：17A0747981

2D線特徴の粗さを特性化するための方法:再結晶境界【Powered by NICT】

A method to characterize the roughness of 2-D line features: recrystallization boundaries

著者 (5件)： SUN J. (Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark) ,  ZHANG Y.B. (Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark) ,  DAHL A.B. (Section for Image Analysis and Computer Graphics, Department of Applied Mathematics and Computer Science, Technical University of Denmark, Lyngby, Denmark) ,  CONRADSEN K. (Section for Image Analysis and Computer Graphics, Department of Applied Mathematics and Computer Science, Technical University of Denmark, Lyngby, Denmark) ,  JUUL JENSEN D. (Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 265  号： 3  ページ： 313-321  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 法について述べたが,これは,中立面は知られていない物体の非平面境界の粗さの定量化を可能にする。法は局所及び大域的特性の定量的記述を提供する。法は,粗い特徴と局所曲率の大きさを推定するために使用できる方法も提示した。方法の可能性を走査型電子顕微鏡によって特性化純Al試料中の二再結晶粒界の粗さの定量化によって説明した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 曲率 ,  *表面粗さ ,  走査電子顕微鏡 ,  *キャラクタリゼーション ,  アルミニウム ,  *再結晶 ,  結晶粒界

著者キーワード (6件)： 地域は積分不変量 ,  境界 ,  曲率 ,  電子後方散乱回折 ,  recrystallization ,  roughness

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 2D ,  特性化 ,  再結晶 ,  境界