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J-GLOBAL ID：201702258480585810   整理番号：17A0388210

シンクロトロン放射を用いるマイクロX線蛍光共焦点イメージングのためのFPMモデル計算【Powered by NICT】

FPM model calculation for micro X-ray fluorescence confocal imaging using synchrotron radiation

著者 (6件)： Szaloki I. (Institute of Nuclear Techniques, Budapest University of Technology and Economics, Hungary. [e-mail]) ,  Gerenyi A. ,  Radocz G. ,  Lovas A. ,  De Samber B. ,  Vincze L.
資料名： Journal of Analytical Atomic Spectrometry  (Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 32  号： 2  ページ： 334-344  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0770C  ISSN： 0267-9477  CODEN： JASPE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロンベース共焦点X線蛍光イメージングのための新しい定量的再構成モデルを開発し,その妥当性を確認した。理論的アプローチは,微量元素,微量元素と主要元素の濃度値の2次元分布を計算するための基礎パラメータ法(FPM)の方程式の新しい一般化システムを使用した。2D定量的μXRF計算の再構成手順のために,直列型特殊化した反復アルゴリズムは試料中の各ボクセルの元素組成の逐次近似に基づいて開発した。本法は非線形FPM方程式に関与する変数の膨大な数の同時接近溶液で生じる深刻な数値的困難を無視することができた。モデルは試料体積における一次および二次X線ビームの吸収と各試料ボクセルにおける特性X線放射の光電励起過程を述べた。この新しい評価法の検証のために,標準試料を,HASYLABのビームラインLで単色シンクロトロン放射を用いて測定した。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 再構成 ,  ビームライン ,  微量元素 ,  *X線 ,  *蛍光 ,  ボクセル ,  固有X線 ,  二次元 ,  標準片 ,  *シンクロトロン放射
準シソーラス用語： X線ビーム ,  反復アルゴリズム ,  蛍光イメージング ,  *共焦点 ,  *共焦点イメージング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S)

タイトルに関連する用語 (5件)： シンクロトロン放射 ,  X線 ,  蛍光 ,  共焦点イメージング ,  モデル計算