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J-GLOBAL ID：201702258497088237   整理番号：17A0432203

到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法

An Untestable Fault Identification Method for Sequential Circuits Based on SAT Using Unreachable States

著者 (6件)： 二関森人 (日本大 大学院生産工学研究科) ,  細川利典 (日本大 生産工) ,  吉村正義 (京都産業大 コンピュータ理工) ,  新井雅之 (日本大 生産工) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院理工学研究部) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院理工学研究部)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 466(DC2016 74-83)  ページ： 29-34  発行年： 2017年02月14日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スキャン設計回路は,ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている。上述の課題を解決するために,非スキャンベースでのテスト生成が求められている。しかしながら,非スキャンベースでの順序回路のテスト生成では,高い故障検出効率を得ることが困難であり,特にテスト不能故障判定に多大な時間を必要とする。そのため,テスト生成時間を削減するために,テスト生成前にあらかじめテスト不能故障を判定する手法が提案されている。本論文では,SATを用いて数個のフリップフロップの状態が到達不能状態かを判定する手法を提案し,その到達不能状態と時間展開モデルを用いたテスト不能故障判定法を提案する。既存の順序回路のテスト不能故障判定法と提案手法を組み合わせて,ISCAS’89ベンチマーク回路にテスト不能故障を判定し,その数を評価する。(著者抄録)

シソーラス用語： *順序回路 ,  *故障検出 ,  モデル ,  *回路設計 ,  *回路試験 ,  双安定回路 ,  アルゴリズム ,  C言語 ,  回路操作 ,  充足可能性問題
準シソーラス用語： テスト不能故障 ,  到達不能状態 ,  時間展開モデル ,  含意操作 ,  FIREアルゴリズム ,  スキャン設計 ,  テスト生成 ,  フリップフロップ

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (13件)：

• H. Fujiwara., ′′Logic Testing and Design for Testability,′′ The MIT Press, 1985.
• Dong Xiang, Yi Xu and H. Fujiwara, ′′Nonscan design for testability for synchronous sequential circuits based on conflict resolution,′′ IEEE Trans, on Computers, Vol.52, No.8, pp. 1063-1075, Aug. 2003.
• Y. C. Lin, F. Lu and K. T. Cheng, ′′Pseudo functional testing,′′ IEEE Trans, on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol.25, No.8, pp.1535-1546, Aug 2006.
• Kazuya Sugiki, Toshinori Hosokawa, and Masayoshi Yoshimura, ′′A Test Generation Method for Datapath Circuits Using Functional Time Expansion Models,′′ Workshop on RTL and High Level Testing, pp. 39-44, Nov 2008.
• Tetsuya Masuda, Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa and Hideo Fujiwara., ′′A Test Generation Method for Data Paths Using Easily Testable Functional Time Expansion Models and Controller Augmentation,′′ Asian Test Symposium, pp. 37-42, Nov 2015.

タイトルに関連する用語 (4件)： SAT ,  順序回路 ,  テスト ,  故障判定