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J-GLOBAL ID：201702258611125004   整理番号：17A0221862

In_1-xSn_x合金薄膜の構造キャラクタリゼーション,光学特性,相転移

Structural Characterization, Optical Properties, and Phase Transitions of In_1-xSn_x Alloy Thin Films

著者 (12件)： ZHANG Jinbo (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHANG Jinbo (Yangzhou Univ., Yangzhou, CHN) ,  ZHENG Yuxiang (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  WANG Zhanyu (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  WANG Songyou (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  WANG Songyou (Key Lab. for Information Sci. of Electromagnetic Waves (MoE), Shanghai, CHN) ,  ZHANG Rongjun (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  YANG Shangdong (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHAO Dongdong (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  YANG Liao (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHANG Dongxu (China Acad. of Engineering Physics, Sichuan Province, CHN) ,  CHEN Liangyao (Fudan Univ., Shanghai, CHN)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 120  号： 14  ページ： 7822-7828  発行年： 2016年04月14日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： nタイプ<100>Si基板面に電子ビーム蒸着した種々の組成のIn_1-xSn_x合金(x=0.06~0.51)薄膜のX線回折,電界放射走査電子顕微鏡,AFM,分光偏光解析法などによるキャラクタリゼーションを行った。そして,分光偏光解析から得たIn_1-xSn_x合金薄膜の誘電関数におけるε異常挙動は,固相-固相タイプ相転移の存在を示唆した。さらに,第一原理DFT計算結果は,Sn濃度上昇に伴う結晶構造変化に基づく電子バンド構造変化の存在を明らかにした。

シソーラス用語： 偏光解析法 ,  走査電子顕微鏡 ,  第一原理 ,  密度汎関数法 ,  *インジウム合金 ,  *スズ含有合金 ,  *金属間化合物 ,  電子ビーム蒸着 ,  *金属薄膜 ,  誘電関数 ,  *相変態 ,  バンド構造 ,  *依存性
準シソーラス用語： DFT計算 ,  *固相転移 ,  *合金薄膜 ,  *組成依存性 ,  電界放射走査電子顕微鏡 ,  電子バンド構造 ,  特異性 ,  分光偏光解析法

分類 (3件)： 金属薄膜  (BK14030T) ,  固相転移  (BL04020G) ,  金属系複合材料一般  (WE04010V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 合金薄膜 ,  キャラクタリゼーション ,  光学特性 ,  相転移