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J-GLOBAL ID：201702259274471582   整理番号：17A0757176

テストデータ削減のための多重多項式を用いたソフトウェアベース埋込みコアテスト【Powered by NICT】

Software-based embedded core test using multi-polynomial for test data reduction

著者 (5件)： Kang Soyeon (Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea) ,  Choi Inhyuk (Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea) ,  Lim Hyeonchan (Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea) ,  Seo Sungyoul (Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea) ,  Kang Sungho (Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ISOCC  ページ： 39-40  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ソフトウェアベース自己テスト(SBST)はプロセッサと知的所有権(IP)コアは,埋め込まれたメモリを用いた自体を試験する自己テストである。しかし,環境限られたメモリサイズは最大課題の一つである。本論文では,複数の多項式を用いた新しいSBST解を提示した。必要なテストデータを減らすために,多項式が原始多項式と(BM)アルゴリズムに基づく多項式から成り,各多項式はそれぞれ擬似ランダムパターン及び決定論的パターンを生成する。実験結果は,このSBST法は故障検出率の減少なしに試験プログラムのサイズを減少させることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 演算プロセッサ ,  知的財産権 ,  *多重化 ,  記憶装置 ,  故障検出 ,  *多項式 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： 決定論 ,  擬似ランダム ,  *試験データ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (7件)： テストデータ ,  多重 ,  多項式 ,  ソフトウェア ,  埋込み ,  コア ,  テスト