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J-GLOBAL ID:201702259840430642   整理番号:17A0069942

高能效寛の電圧標準ユニットの解析と最適化【JST・京大機械翻訳】

Analysis and Optimization of High-Efficiency Standard Cells Operating With in Wide-Range Supply Voltage
著者 (2件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 72-75  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2387A  ISSN: 1000-7180  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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高電圧の下の回路の性能に及ぼす大扇入論理ゲートの影響を研究し,高電圧での回路の性能と電力消費に及ぼす負の影響はなく,回路の面積をある程度増加させることができることを証明した。32NM標準セルにおける非同期位置リセットDフリップフロップユニットとレベルバレルシフタユニットに対して回路最適化を行い、低電圧での遅延時間はそれぞれ14.6%と19.9%減少し、電源電圧が閾値近くまで低下した時の性能悪化は深刻な問題を解決した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (4件):
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