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J-GLOBAL ID：201702259899978844   整理番号：17A1232933

日本梨の落下損傷評価に対する電気的等価回路解析の応用

著者 (6件)： 渡邊高志 (農研機構) ,  中村宣貴 (農研機構) ,  安藤泰雅 (農研機構) ,  兼田朋子 (徳島県農林水産総合技術支援セ) ,  北澤裕明 (農研機構) ,  椎名武夫 (千葉大)
資料名： 農業食料工学会年次大会講演要旨  (農業食料工学会年次大会講演要旨集)
巻： 76th  ページ： 172  発行年： 2017年09月04日 
JST資料番号： L6881A  ISSN： 2188-2584  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ナシ ,  落果 ,  *損傷 ,  *等価回路 ,  評価 ,  *落下試験 ,  インピーダンス ,  電気抵抗 ,  静電容量 ,  細胞膜 ,  落下
準シソーラス用語： キャパシタンス ,  レジスタンス【電気】 ,  幸水 ,  細胞損傷 ,  *日本ナシ ,  複素インピーダンス ,  落下損傷

分類 (3件)： 果実とその加工品  (FJ11030Z) ,  食品の分析  (FJ01030U) ,  食品の変質  (FJ01052Y)

タイトルに関連する用語 (7件)： 日本 ,  梨 ,  落下 ,  損傷評価 ,  等価回路 ,  解析 ,  応用