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J-GLOBAL ID：201702261201474435   整理番号：17A0062096

高圧下Sb_2O_3における相転移の実験的観測【Powered by NICT】

Experimental Observation of Phase Transition in Sb_2O_3 under High Pressure

著者 (5件)： Geng Aihui (College of Science, Changchun University of Science and Technology) ,  Cao Lihua (College of Science, Changchun University of Science and Technology) ,  Ma Yanmei (College of Physics,Jilin University) ,  Cui Qiliang (College of Physics,Jilin University) ,  Wan Chunming (College of Science, Changchun University of Science and Technology)
資料名： Chinese Physics Letters  (Chinese Physics Letters)
巻： 33  号： 9  ページ： 097401-1-097401-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W1191A  ISSN： 0256-307X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体三酸化アンチモン(Sb_2O_3)のin situ高圧挙動を31.5と30.7GPaまでのダイヤモンドアンビルセル中でRaman分光法と角度分散シンクロトロンX線粉末回折により調べた。13.5GPaでRamanスペクトルにおける外部格子モード範囲で観測された新しいピークは構造相転移が起こることを示唆した。Sb_2O_3におけるグループモード(140cm ( 1))は異常な圧力依存性を示しであり,周波数は圧力の増加とともに徐々に減少した。室温での高圧力シンクロトロンX線回折測定は,高圧の新しい相への斜方晶構造からの転移が約14.2GPaで生じ,グループ光学モード(140cm( 1))の軟化に対応することを明らかにした。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 酸化アンチモン ,  光学モード ,  *アンチモン ,  ダイヤモンドアンビル ,  Ramanスペクトル ,  *相転移 ,  Raman分光法 ,  構造相転移 ,  半導体 ,  斜方晶系 ,  シンクロトロン ,  *高圧 ,  圧力効果
準シソーラス用語： 放射光X線回折 ,  粉末X線回折 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固相転移  (BL04020G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高圧 ,  相転移 ,  実験 ,  観測