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J-GLOBAL ID：201702262893435383   整理番号：17A0537855

均一設計に基づくMEMSジャイロスコープの温度キャリブレーション試験設計を設計した。【JST・京大機械翻訳】

The temperature calibration of MEMS gyro experiment design based on uniform design

著者 (7件)： Gao Shuang (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Zhang Xiaojiao (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Li Huipeng (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Cai Xiaowen (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Li Shengchen (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Wang Wenjie (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University) ,  Zhang Weirui (Key Laboratory on Inertial Science and Technology,Beihang University)
資料名： Zhongguo Ceshi  (Zhongguo Ceshi)
巻： 42  号： 12  ページ： 8-11  発行年： 2016年 
JST資料番号： C3059A  ISSN： 1674-5124  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 従来の温度試験方式には大きな試験時間と長い消費時間があるという問題を解決するために,均一設計法に基づく三軸マイクロ電気機械システム(MEMS)ジャイロスコープの温度キャリブレーション誤差補償方式を提案した。均一設計に基づく4つの因子(試験温度点,加熱速度,MEMSジャイロスコープの回転速度,および回転方向)を設計した。まず第一に,試験のために必要な均一性を構築した。第二に,MEMSジャイロスコープの温度キャリブレーション誤差補償実験の最適実験計画を,LP-バイアスに従って決定した。最後に,MEMSジャイロスコープの温度キャリブレーションの実験装置を構築した。実験結果は以下を示す。各要素の異なるレベルの組合せの全面的な設計方案と比べ、この試験方案は12.5%の試験時間を節約するだけではなく、さらにMEMSジャイロスコープ温度校正誤差の試験量を減らし、研究周期を短縮Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ジャイロスコープ ,  *実験計画法 ,  加熱速度 ,  バイアス ,  回転数 ,  *MEMS
準シソーラス用語： 最適実験計画 ,  回転方向 ,  誤差補償 ,  機械システム ,  三軸 ,  設計法 ,  *MEMSジャイロスコープ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： MEMS gyro ,  uniform design method ,  temperature ,  calibration error compensation

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 設計 ,  MEMSジャイロスコープ ,  キャリブレーション ,  試験設計