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J-GLOBAL ID:201702264162363958   整理番号:17A0123793

(22,24)Siの分光法のための注入と検出システム【Powered by NICT】

An Implantation and Detection System for Spectroscopy of (22,24)Si
著者 (38件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 230-234  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2077A  ISSN: 1007-4627  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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高検出効率と低い検出しきい値を持つ新しい減衰検出システムは荷電粒子崩壊研究,βdelaidプロトン,減衰または直接陽子放出陽子過剰核からのために開発した。検出システムはβdelaid陽子放出核24Siを用いて試験し,蘭州における最初の放射性イオンビームラインでの入射体フラグメンテーションによって生成された(22)Siの崩壊研究で委託された。連続ビームモードの下では,興味の対象となる同位体は二個の2重端Siストリップ検出器に移植した,その後の崩壊は位置と時間情報を用いて測定し,相関前注入した。システムは,陽子スペクトルで明らかなβバックグラウンドなしに約200keVまでのエネルギーを持つ陽子を測定できる。検出システムのさらなる応用はβdelaid陽子崩壊の測定と他のエキゾチック陽子過剰核の直接陽子放出に拡張することができる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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素粒子・核物理実験技術一般  ,  円形加速器 
タイトルに関連する用語 (4件):
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