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J-GLOBAL ID:201702264392728049   整理番号:17A0096063

整数記憶数を用いたテストデータ符号化圧縮手法【JST・京大機械翻訳】

Test Data Compression Coding-based Scheme Storing Integers Represented for Irrational Numbers
著者 (5件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: 1605-1612  発行年: 2016年 
JST資料番号: W1498A  ISSN: 1003-9775  CODEN: JFTXFX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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集積回路試験のための自動試験装置は,大量のテストデータを必要とし,チップをテストする必要があり,多くのテストデータ伝送時間を浪費し,チップテストコストを低減することができないので,試験データ符号化圧縮法を提案した。まず第一に,テストデータをランレングスの長さに分割して,第1のランレングスの長さは小数の1であり,他のランレングスの長さは小数小数点であり,テストデータを小数点に変換した。次に,二分探索法を提案して,この表現を整数表現に変換することができた。最後に,数に対応する整数はM,L,Kを表す.この方法は,テストデータの規則をテストするための方法を採用するのではなく,全体のテストセットのメモリを単一またはいくつかの数に対応する整数表現に変換することができる。いくつかのISCAS89標準回路における大規模回路に関する実験結果は,同じ実験環境において,圧縮効果がGOLOMB符号,FDR符号,EFDR符号,MFVRCVB符号などの成熟した符号化方法よりも優れていることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
著者キーワード (4件):
分類 (4件):
分類
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計算理論  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  演算方式  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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