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J-GLOBAL ID：201702264939570263   整理番号：17A0443150

Umov法により求められたミクロンサイズのダスト粒子の反射率【Powered by NICT】

Reflectance of micron-sized dust particles retrieved with the Umov law

著者 (5件)： Zubko Evgenij (School of Natural Science, Far Eastern Federal University, 8 Sukhanova Street, Vladivostok 690950, Russia) ,  Videen Gorden (Space Science Institute, 4750 Walnut Street, Boulder Suite 205, CO 80301, USA) ,  Videen Gorden (US Army Research Laboratory RDRL-CIE-S, 2800 Powder Mill Road, Adelphi, MD 20783, USA) ,  Zubko Nataliya (Finnish Geospatial Research Institute, Geodeetinrinne 2, FIN-02430 Masala, Finland) ,  Shkuratov Yuriy (Institute of Astronomy, V.N. Karazin Kharkov National University, 35 Sumskaya Street, Kharkov 61022, Ukraine)
資料名： Journal of Quantitative Spectroscopy & Radiative Transfer  (Journal of Quantitative Spectroscopy & Radiative Transfer)
巻： 190  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0072A  ISSN： 0022-4073  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 粒子状表面から散乱された場合は,初めは非偏光光を獲得する最大の正分極P_maxはその幾何学的アルベドと逆相関する。文献では,この現象はUmov則として知られている。単一散乱サブミクロンとミクロンサイズ凝集デブリ粒子への応用におけるUmov則,高度に不規則な形態を持つことをモデル粒子を調べた。複素屈折率mは,Re(m)=1.4 1.7とIm(m)=0 0.15に限定されるならば,与えられたサイズ分布のモデル粒子はlog(P_max)とlog(A)間の線形逆相関を持つことを見出した。この相関は粒子表面で測定した,両システムでUmov則を支配する同様な機構を示唆しているか類似している。単一散乱粒子のlog(P_max)に対するlog(A)の依存性をパラメータ化し,[1]におけるDolgosとMartinsによって報告された大気エアロゾルの航空機搭載偏光測定を解析した。DolgosとMartinsにより測定されたP_max≒50%が幾何学的アルベドA=0.019±0.005を持つ非常に暗いエーロゾルに対応すると結論した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： パラメタリゼーション ,  アルベド ,  エアロゾル ,  複素屈折率 ,  *反射率 ,  偏光 ,  偏光測定 ,  線形性 ,  凝集
準シソーラス用語： 航空機搭載 ,  大気エアロゾル ,  サイズ分布 ,  単一散乱 ,  逆相関 ,  *ダスト粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (8件)： Umov効果 ,  反射率 ,  偏光 ,  エーロゾル ,  ダスト粒子 ,  モデリング ,  不規則形状粒子 ,  離散双極子近似

分類 (2件)： 光の散乱,回折,干渉  (BD03030M) ,  放射伝達,放射変調  (BD03080P)

タイトルに関連する用語 (3件)： ミクロンサイズ ,  ダスト粒子 ,  反射率