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J-GLOBAL ID：201702266922872494   整理番号：17A0886010

パルスパワー応用のための強誘電体ガラスセラミック誘電体の絶縁破壊特性【Powered by NICT】

Breakdown Characteristics of Ferroelectric Glass-Ceramic Dielectric for Pulsed Power Applications

著者 (7件)： Jiang Ping (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Yuan Jianqiang (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Liu Hongwei (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Wang Lingyun (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Li Hongtao (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Xie Weiping (Key Laboratory of Pulsed power, Institute of fluid physics, China Academy of Engineering Physics, Mianyang, China) ,  Zhang Qingmeng (Advanced Electronic Materials Institute, General Research Institute for Nonferrous Metals, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Plasma Science  (IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 45  号： 4  ページ： 698-701  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0036B  ISSN： 0093-3813  CODEN： ITPSBD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PbO SrO Na_2O Nb_2O_5SiO_2系における強誘電ガラスセラミックキャパシタの絶縁破壊特性を調べ,dc充電とパルス充電下で含まれていた。結果は充電前後の静電容量は有意な変化されなかったことを明らかにした。誘電率と電場の間の関係も調べた。一方,特異な現象はパルス充電下でガラスセラミック誘電体の絶縁破壊強度はdc充電下で,一般的な理論にかなりの不一致であるよりもはるかに低いことが分かった。その後まとめた可能な説明。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 絶縁耐力 ,  *誘電体 ,  静電容量 ,  *絶縁破壊 ,  誘電率 ,  *強誘電体 ,  充電 ,  電場 ,  *ガラスセラミック ,  *パルス
準シソーラス用語： *パルスパワー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： プラズマ装置  (BJ02082I) ,  プラズマ応用  (BJ02110K)

タイトルに関連する用語 (7件)： パルスパワー ,  応用 ,  強誘電体 ,  ガラス ,  セラミック誘電体 ,  絶縁 ,  破壊特性