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J-GLOBAL ID：201702268205005517   整理番号：17A0194286

走査プローブ顕微鏡に基づく微小光電気的性質測定方法と装置【JST・京大機械翻訳】

Scanning Probe Microscopy Based Method and Equipment for Measurement of Local Photoelectric Property

著者 (4件)： Wei Yanping (Ningbo Institute of Material Technology and Engineering Chinese Academy of Sciences) ,  Ma Yongcun (Ningbo Institute of Material Technology and Engineering Chinese Academy of Sciences) ,  Wei Anxiang (Ningbo Institute of Material Technology and Engineering Chinese Academy of Sciences) ,  Lu Huanming (Ningbo Institute of Material Technology and Engineering Chinese Academy of Sciences)
資料名： Fenxi Kexue Xuebao  (Fenxi Kexue Xuebao)
巻： 32  号： 5  ページ： 709-712  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2895A  ISSN： 1006-6144  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 本論文では,従来のAGLIENT 5500型走査型プローブ顕微鏡に基づいて,光源と焦点システム,配置強度自動制御部品,および試料などの方法を用いて,太陽光シミュレータからの光をサンプルのプローブ走査領域に導入した。走査型プローブ顕微鏡を用いて,太陽電池材料のミクロ電気光学的性質をIN SITUで測定する機能を開発した。光電気的性質の試験過程はボックス内で行うことができ,有機半導体が空気中の水や酸素を吸収しやすいという問題を解決した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 自動制御 ,  *走査 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  有機半導体 ,  太陽光 ,  太陽電池 ,  *電気的性質 ,  酸素 ,  シミュレータ ,  光学的性質 ,  光源 ,  *プローブ

著者キーワード (3件)： Scanning probe microscopy ,  Photoelectric property ,  Solar cell

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査プローブ顕微鏡 ,  微小 ,  電気的性質 ,  測定方法