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J-GLOBAL ID：201702271442072680   整理番号：17A0668269

超高速過渡過電圧のシミュレーション研究【Powered by NICT】

Simulation studies on very fast transient overvoltage

著者 (5件)： He Baina (Shandong University of Technology College of Electric and Electronic Engineering Zibo, China) ,  Zhao Yunwei (Shandong Industry Vocational College Department of Electric Engineering Zibo, China) ,  Huang Guichun (Shandong University of Technology College of Electric and Electronic Engineering Zibo, China) ,  Hu Yuanchao (Shandong University of Technology College of Electric and Electronic Engineering Zibo, China) ,  An Yunzhu (Shandong University of Technology College of Electric and Electronic Engineering Zibo, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICHVE  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超高速過渡過電圧(VFTO)はGISの運転信頼性に影響を及ぼすだけでなく,変圧器の巻線に高電圧機器の絶縁に対する大きな脅威を引き起こし,特に。550kVGIS変電所を対象として,VFTO特性,発生機構と影響因子を研究した。GISの構造に基づいて,GIS内部構造のシミュレーションモデルを確立し,GIS断路器の操作による高速過渡過電圧をシミュレートした。高速過渡過電圧に及ぼす構造パラメータの影響を解析し,VFTOの影響因子は,内部と外部のGISの観点から解析した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： シミュレーションモデル ,  信頼性 ,  *過電圧 ,  断路器 ,  変圧器 ,  *高速度 ,  巻線 ,  内部構造 ,  *シミュレーション ,  構造パラメータ ,  変電所
準シソーラス用語： 影響因子 ,  発生機構 ,  *超高速 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 開閉装置  (NB09030I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 過電圧 ,  シミュレーション ,  研究