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J-GLOBAL ID:201702271779851246   整理番号:17A0665375

低エネルギーイオン照射および非照射Zn_0Cu3O6.95Mn_0 0.05O膜の磁気的性質と微細構造特性との相関【Powered by NICT】

Correlation between magnetic and micro-structural properties of low energy ion irradiated and un-irradiated Zn0.95Mn0.05O films
著者 (7件):
資料名:
巻:号:ページ: 771-781  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7055A  ISSN: 2046-2069  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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固有強磁性(FM)を確立するために,その微細構造起源(もしあれば)を検出するために,ゾル-ゲル誘導Zn_0 0.95Mn_0 0.05O膜を低エネルギー(800 keV)Ar~4+イオン照射を施行された。照射および非照射膜の構造的,光学的,磁気的,及び微細組織特性をX線回折(XRD),UV-可視と光ルミネセンス(PL)分光法,電界と温度依存磁化測定,X線吸収端近傍分光法(XANES)と拡張X線吸収微細構造(EXAFS)分光法によって調べた。全ての膜は単相ウルツ鉱型構造と固有FMを示した。バンドギャップとバンドテールパラメータは照射のフルエンスで系統的変化を示した。PLスペクトルは緑色発光ピーク(酸素空格子点)を示し,それは照射の低フルエンス(5×10~14イオン/cm~2)を持つ膜で有意に抑制された。低フルエンスで照射した膜は反強磁性(A FM)相互作用と最も強いFMが存在しないことを示した。XANESとEXAFSの研究は,ホストZnOマトリックス中のZnと比較してMnの酸化状態と局所環境の違いを示した。強いFMを示す膜は,比較的高い数四面体配位Mnイオンを示した。磁気特性を光学および微細構造特性と相関していたと低フルエンスイオン照射のを最適化すると想定されている。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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固体デバイス材料  ,  光化学一般 
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