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J-GLOBAL ID：201702271788489505   整理番号：17A0263871

65NMプロセス二重層三次元静的メモリのソフトエラー解析と評価【JST・京大機械翻訳】

Soft error analysis and evaluation of dual-layer 3D SRAM based on 65 nm technology

著者 (6件)： Li Peng (College of Computer, National University of Defense Technology) ,  Guo Wei (College of Computer, National University of Defense Technology) ,  Zhao Zhenyu (College of Computer, National University of Defense Technology) ,  Zhang Minxuan (College of Computer, National University of Defense Technology, National Key Laboratory for Parallel and Distributed Processing) ,  Deng Quan (College of Computer, National University of Defense Technology) ,  Zhou Hongwei (College of Computer, National University of Defense Technology)
資料名： Guofang Keji Daxue Xuebao  (Guofang Keji Daxue Xuebao)
巻： 38  号： 5  ページ： 20-25  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0569A  ISSN： 1001-2486  CODEN： GKDXEM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 新しい三次元静的メモリは二次元静的メモリの代わりに高度なプロセッサに広く使用されているが,それは依然としてソフトエラーの被害を受ける。三次元静的メモリのソフトエラー特性を迅速かつ自動的に解析するために,三次元静的メモリソフトエラー解析プラットフォームを構築した。このプラットフォームを用いて,以字線の三次元静的メモリと二次元静的メモリをそれぞれ解析し,解析結果を比較した。研究結果は二次元と三次元静的メモリの反転断面積はほぼ同じであるが,三次元静的メモリ単一文字で発生するソフトエラーは二次元静的メモリよりも深刻で,糾検錯技術を用いてそれを補強することは困難であることを示した。静的モードにおいて,二次元および三次元静的メモリノードは,記憶アレイに分布し,そして,静的モードの下で,論理回路は,ソフトエラーを引き起こさないことを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 二次元 ,  論理回路 ,  スタティックメモリ ,  演算プロセッサ ,  *ソフトエラー ,  *誤差解析 ,  断面積 ,  *三次元
準シソーラス用語： 二重層 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： three-dimensional static random access memory ,  soft error ,  analysis platform ,  cross section ,  single event upset ,  multi cell upset

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： プロセス ,  二重層 ,  静的メモリ ,  ソフトエラー ,  解析 ,  評価