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J-GLOBAL ID:201702272720842169   整理番号:17A0259930

IEC 61850サーバ一貫性閉ループ試験システムの設計と実現(1)テストプラットフォームとED 1.0テストケース【JST・京大機械翻訳】

Design and Implementation of Closed-loop Conformance Testing System for IEC 61850 Server Part OneTesting Platform and Ed 1.0 Test Cases
著者 (6件):
資料名:
巻: 40  号: 23  ページ: 157-162  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2510A  ISSN: 1000-1026  CODEN: DXZIE9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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現在の知的変電所のIEC 61850一試験における人工干渉の問題を解決するために,IEC 61850規格をサポートする一貫性閉ループ試験システムを提案した。このシステムは,QT++に基づくソフトウェアプラットフォームとDSP+ARMデュアルコアプロセッサに基づく分散型ハードウェアプラットフォームを採用して,IEC 61850 ED 1.0の関連するテストケースを,PYTHON言語によって開発した。また,ユーザインタフェイス定義のための関数インタフェースを提供し,試験事例を自動的に実行することができ,試験過程におけるループを実現し,試験の効率と品質を改善した。プラットフォーム試験とユースケース部分において,実際の装置を対象として,典型的なED 1.0試験用例を検証し,試験結果は,テストケースがIEC 61850一の試験要求を満たすことを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
変電  ,  計算機システム開発 

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