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J-GLOBAL ID：201702273812479584   整理番号：17A1390946

He原子線強度比法を用いた非接触プラズマの電子温度・密度評価

著者 (6件)： 鈴木健介 (名古屋大) ,  梶田信 (名古屋大 未来研) ,  大嶋啓嗣 (名古屋大) ,  大野哲靖 (名古屋大) ,  田中宏彦 (名古屋大) ,  秋山毅志 (核融合研)
資料名： 電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集(CD-ROM)  (電気学会基礎・材料・共通部門大会(CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.19-P-16  発行年： 2017年09月19日 
JST資料番号： L3783B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ヘリウム ,  原子ビーム ,  強度 ,  電子温度 ,  電子密度 ,  *プラズマ ,  *核融合炉 ,  熱負荷 ,  ビーム

分類 (2件)： 核融合装置  (BJ02083Z) ,  プラズマ一般  (BJ02010B)

タイトルに関連する用語 (7件)： He ,  原子線 ,  強度比 ,  非接触プラズマ ,  電子温度 ,  密度 ,  評価