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J-GLOBAL ID：201702274109576335   整理番号：17A0348040

XWP2-160磁器碍子のAC汚染フラッシュオーバー特性に及ぼすCASO_4の質量分率の影響を研究した。【JST・京大機械翻訳】

Influence of CaSO_4 Content in Contamination on AC Pollution Flashover Characteristics of XWP2-160 Porcelain Insulator String

著者 (6件)： Huang Daochun (School of Electrical Engineering, Wuhan University) ,  Xiong Ziteng (School of Electrical Engineering, Wuhan University) ,  Zhang Hu (School of Electrical Engineering, Wuhan University) ,  Ruan Jiangjun (School of Electrical Engineering, Wuhan University) ,  Xu Tao (China Electric Power Research Institute) ,  Wan Xiaodong (China Electric Power Research Institute)
資料名： Gaodianya Jishu  (Gaodianya Jishu)
巻： 42  号： 12  ページ： 3803-3809  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2121A  ISSN： 1003-6520  CODEN： GAJIE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 送電線碍子は自然条件下で表面汚染成分の中に大量のCASO_4を含有し、汚染中のCASO_4は碍子の汚染フラッシュオーバー特性に大きな影響を与える。そのため、7枚のXWP2-160型碍子のストを用いて、人工室で人工汚染試験を行い、CASO_4が碍子の漏れ電流と漏れ電流に与える影響規則を研究した。研究により;CASO_4の質量分率の増加とともに,碍子の漏れ電流は,べき関数の形で増加し,漏れ電流のピーク値は減少した。CASO_4の作用の下で,可溶性物質の密度(SCD)は,物の密度に及ぼす影響の程度の1.45~1.7倍であり,そして,碍子の漏れ電流のピーク値に及ぼすSCDの影響は,物密度(NSDD)の3~4倍であった。汚染の増加とともに,CASO_4の質量分率の変化は,絶縁破壊電圧に及ぼす影響を,徐々に増加させることができた。CASO_4の質量分率の増加とともに,SCDおよびNSDDの変化は,碍子の漏れ電流および漏れ電流のピーク値に及ぼす影響を,徐々に減少させた。研究結果は,送電線の外部絶縁設計のための参照を提供することができた。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 可溶性 ,  *フラッシュオーバ ,  漏れ電流 ,  絶縁設計 ,  送電線 ,  ピーク値 ,  *碍子 ,  溶解性
準シソーラス用語： 絶縁破壊電圧 ,  表面汚染 ,  *質量分率 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： CaSO_4 ,  porcelain insulator ,  pollution withstand voltage ,  SCD ,  NSDD ,  leakage current peak value

分類 (1件)： 電力線路要素・工事  (NB05020V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 磁器碍子 ,  Ac ,  汚染 ,  フラッシュオーバー ,  質量分率 ,  研究