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J-GLOBAL ID：201702274350816735   整理番号：17A0298671

J-TEXTの偏光計干渉計システムの高速データ処理【Powered by NICT】

Fast Data Processing of a Polarimeter-Interferometer System on J-TEXT

著者 (6件)： Liu Yukai (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Gao Li (Institute of Fusion and Plasma Research, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology) ,  Liu Haiqing (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Yang Yao (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Gao Xiang (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  J-TEXT Team (Institute of Fusion and Plasma Research, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology)
資料名： Dengliziti Kexue he Jishu(Yingwenban)  (Dengliziti Kexue he Jishu(Yingwenban))
巻： 18  号： 12  ページ： 1143-1147  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2608A  ISSN： 1009-0630  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高速データ処理法はJ-TEXTにおけるマルチチャネル旋光干渉計システム(POLARIS)の電子密度プロフィルの進展を高速に取得するために開発した。Abel逆変換法と比較して,本法によって分析した密度プロファイルの発展を,重要な情報を提供できる。この方法は通常のショット当たり十ミリ秒の順序と高速計算速度の利点を有しており,これは1MHzまでサンプルデータ,密度鋸歯状不安定性とショット間破壊を研究するための役立つの処理が可能である。J-TEXTで通常のオーミック放電のフラットトッププラズマ電流の持続時間で,形状因子Uは4から5の範囲である。放電の破壊が生じると,密度プロファイルがピークとなり,形状因子Uは典型的に1に減少した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 形状因子 ,  粒状材 ,  *データ処理 ,  放電 ,  電子密度 ,  *偏光計 ,  高速計算 ,  プラズマ電流 ,  逆変換 ,  *干渉計 ,  旋光性 ,  継続時間 ,  密度分布 ,  *高速度
準シソーラス用語： マルチチャネル , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 高速データ処理 ,  偏光計干渉計 ,  J-TEXT

分類 (2件)： 核融合装置  (BJ02083Z) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (3件)： 偏光計 ,  干渉計 ,  データ処理