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J-GLOBAL ID:201702274554626153   整理番号:17A0759459

SiCおよびZnOとGaNのヘテロ構造は骨格半導体におけるキャリアの安定性と分離を促進する【Powered by NICT】

Heterostructures of GaN with SiC and ZnO enhance carrier stability and separation in framework semiconductors
著者 (11件):
資料名:
巻: 214  号:ページ: ROMBUNNO.201600440  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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密度汎関数理論を用いて,計算論的アプローチは新しいクラスの半導体複合材料の増強された電子-正孔安定性と分離を記述するために採用,いわゆる二重気泡構造モチーフ,光触媒用途に使用できる。GaN又はZnOのいずれかと混合したSiCを含む二重気泡と同様に,低形成エネルギーを有することが証明されている関連モチーフを調べた。は原子ZnOケージ内,24原子SiCソーダライトケージは,この材料が太陽放射吸収応用に適した電子特性を持つことを示した。安定,SiC内部ZnOを,逆構造は二重気泡の大変形と光励起電子電荷キャリアの強力な局在化を示し,検討した複合材料の約2.15eVの最低バンドギャップを持つことが分かった。これらの材料のナノ多孔性性質は,熱電応用に対するそれらの適合性を示すことができた。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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