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J-GLOBAL ID：201702274562801046   整理番号：17A0530581

電気化学的腐食研究におけるSKPとLEISの応用の進展【JST・京大機械翻訳】

著者 (3件)： Wang Wenhe (重慶科技学院安全工程学院) ,  Wang Changyou (重慶科技学院法政与経貿学院) ,  Chen Kuiling (重慶科技学院安全工程学院)
資料名： Cailiao Baohu (Wuhan)  (Cailiao Baohu (Wuhan))
巻： 49  号： 12  ページ： 64-68  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0339A  ISSN： 1001-1560  CODEN： CAIBE3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 走査型KELVINプローブ(SKP)と局所電気化学インピーダンス分光法(LEIS)の2つの先進的電気化学的測定技術の原理と利点を紹介した。本論文では,孔食,孔食,孔食,微生物の腐食,および他のタイプの腐食研究における2つの技術の応用をレビューした。結果は,2つの測定技術が,マクロ電気化学測定技術のための良い補完と改善効果を持つことを示した。2つの技術の将来の開発傾向を展望した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 走査 ,  微生物 ,  プローブ ,  *腐食
準シソーラス用語： 電気化学インピーダンス分光法 ,  *電気化学的腐食 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 腐食  (WB03030B) ,  電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電気化学的腐食 ,  研究 ,  応用 ,  進展