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J-GLOBAL ID：201702275039363198   整理番号：17A0118838

論理的依存性のためのメトリックスイート提案【Powered by NICT】

A Metric Suite Proposal for Logical Dependency

著者 (8件)： Akbarinasaji Shirin ,  Soltanifar Behjat ,  Caglayan Bora ,  Bener Ayse Basar ,  Miranskyy Andriy ,  Filiz Asli ,  Kramer Bryan M. ,  Tosun Ayse
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： WETSoM  ページ： 57-63  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 論理依存性を問題に取り組むまたはシステムの変化のために,一緒に変化するソースコード間の隠れた相互接続に関連している。本研究では,変更時間の発見的方法を用いた論理依存性の六つの計量を提案した。三種類のソフトウェア企業からのデータを用いてこの提案された測定基準を評価した。も提案した論理依存性計量を持つ欠陥予測モデル,一般的に使用されるベースライン測定基準,ならびに両者の組合せを構築した。著者らの実証的研究の結果は,提案した計量はソフトウェアコンポーネント間の依存性の特性を捕捉できることを示した。論理依存性計量は欠陥予測モデルの性能を改善示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 相互接続 ,  基準線 ,  発見的方法 ,  ソフトウェア ,  *ソフトウェアコンポーネント
準シソーラス用語： 実証的研究 ,  欠陥予測 ,  ソースコード , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 人工知能  (JE08000Z) ,  計算機システム開発  (JD02010R) ,  工程管理  (KB03030P) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： 依存性 ,  提案