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J-GLOBAL ID:201702276800809675   整理番号:17A0373444

コバルトにおける集束イオンビーム誘起相変態の電子後方散乱回折研究【Powered by NICT】

Electron backscatter diffraction studies of focused ion beam induced phase transformation in cobalt
著者 (4件):
資料名:
巻: 120  ページ: 210-219  発行年: 2016年 
JST資料番号: D0448C  ISSN: 1044-5803  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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集束イオンビーム顕微鏡を用いて,コバルト合金における六方晶系相変態への立方晶を誘導し,超硬合金のバインダ相のそれに類似した組成の0°,45°と80°のイオン入射角で制御された方法で得られた。コバルトは約20μmの平均粒径を有していた,研究した6×10~7と2×10~10イオン/μm~2の線量の範囲に曝露される多重配向を可能にした。電子後方散乱回折(EBSD)は,元のおよび誘起相配向,面積分率,イオンビーム照射前後を決定した。平均して,より高い入射角と低いイオン線量後に観察された少ない相変態。しかしは{111}面に近い配向の結晶粒は相変態に最も感受性があるが,配向効果,および{101}最小,結晶粒は様々なイオン線量で変態した部分的および完全にた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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変態組織,加工組織 

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