文献

J-GLOBAL ID：201702277416119156   整理番号：17A0052796

Ni置換BiFeO₃セラミックスの構造,欠陥,電気及び磁気特性の調査

Investigations on the structure, defects, electrical and magnetic properties of Ni-substituted BiFeO3 ceramics

著者 (5件)： Chen Jing (School of Physics and Electronic Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China) ,  Wang Junling (Department of Traffic Engineering, Henan Vocational and Technical College of Communications, Zhengzhou, China) ,  Dai Haiyang (School of Physics and Electronic Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China) ,  li Tao (School of Physics and Electronic Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China) ,  Chen Zhenping (School of Physics and Electronic Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China)
資料名： Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 27  号： 11  ページ： 11151-11157  発行年： 2016年11月 
JST資料番号： W0003A  ISSN： 0957-4522  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固相反応法とその後の迅速液相焼結によって,多結晶BiFe_1-xNi_xO₃(x=0.00-0.30)セラミックスを合成した。BiFeO₃セラミックスの構造,欠陥,電気及び磁気特性に及ぼすNi置換の影響を調べた。X線回折測定から,Ni置換試料は,非置換BiFeO₃と同様な歪んだ菱面体晶系ペロブスカイト構造を示し,Ni置換によって,Bi₂Fe₄O₉などの不純物相が減少することが分かった。Ramanスペクトルにおけるフォノン周波数の変化から,Ni置換試料における格子歪みが明らかになり,このことはXRD分析と一致する。陽電子消滅寿命測定から,全ての試料に陽イオン空孔型欠陥が存在し,空孔濃度はNi含有量が0.00から0.30に増加するにつれて増加することが明らかになる。漏れ電流及び誘電特性の向上が,Ni置換試料における不純物相及びFe²⁺の抑制によって観察される。磁気測定から,Ni置換BiFeO₃試料が弱い強磁性を示すことが示唆される。Ni濃度が増加するにつれて,内部構造歪み,カチオン空孔,隣接Fe³⁺とNi²⁺イオン間の強磁性交換及びFe-O-Fe結合角の変化によって,磁気特性が,増加することが分る。Copyright 2016 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *セラミック ,  構造特性 ,  格子欠陥 ,  *電気特性 ,  *磁気的性質 ,  X線回折 ,  Raman分光法 ,  陽電子消滅 ,  漏れ電流 ,  誘電率 ,  誘電損失 ,  周波数依存性 ,  磁気ヒステリシス ,  固相反応 ,  液相焼結 ,  ペロブスカイト型結晶 ,  格子歪 ,  強磁性
準シソーラス用語： 磁気特性

分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (7件)： Ni ,  置換 ,  BiFeO3 ,  セラミックス ,  欠陥 ,  磁気特性 ,  調査