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J-GLOBAL ID:201702277579683935   整理番号:17A0528273

CDZNTE検出器の漏れ電流と接合容量の試験【JST・京大機械翻訳】

Test of the Leakage Current and the Junction Capacitance for CdZnTe Semiconductor Detector
著者 (5件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 690-693  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2038A  ISSN: 0258-0934  CODEN: HDYUEC  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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CDZNTE検出器の特性をさらに研究するために,漏れ電流を測定するための試験プラットフォームを構築し,2つの異なる構造の検出器を設計し,試験結果を解析した。今回の実験により、CZT検出器の主な特性をよく把握し、それにより、放射線検出領域の応用に参考を提供することができる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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放射線検出・検出器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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