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J-GLOBAL ID:201702278464934513   整理番号:17A0172568

協調入力ベクトル制御ゲート置換技術は,回路の劣化を緩和する。【JST・京大機械翻訳】

Mitigating NBTI-Induced Circuit Aging by Collaboration between Input Vector Control and Gate Replacement
著者 (6件):
資料名:
巻: 28  号: 10  ページ: 1796-1802  発行年: 2016年 
JST資料番号: W1498A  ISSN: 1003-9775  CODEN: JFTXFX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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既存の選択方法は,入力ベクトル制御(IVC)によって生じる最小遅延時間を目標として,効果的にゲート置換(GR)技術の優位性を発揮することができないので,入力制御ベクトル選択法を提案した。相乗とGR技術は,負のバイアス温度不安定性(NBTI)の劣化を緩和するために使用した。まず第一に,この論文では,ゲートの入力としてのゲートの最大数を用いて,最適入力制御ベクトルを選択し,回路の入力を制御するために,入力ベクトルを選択した。次に,最適入力制御ベクトルによって制御されない論理ゲート1のキーゲート入力ピンに対して,GRの可制御性を解析し,そして,GRによって保護される入力ピンの駆動力を,置換によって置換することができた。実験結果は,既存の選択方式と比較して,提案した方式が,回路遅延の改善率を7.56%改善し,相対的に向上%に達することができ,同時に,付加的面積オーバヘッドと付加的遅延オーバヘッドがわずかに減少することを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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トランジスタ  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
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