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J-GLOBAL ID:201702278878886953   整理番号:17A0204195

AlGaAs/InGaAs仮像高電子移動度トランジスタを用いた鉛イオンの検出【Powered by NICT】

Detection of lead ions with AlGaAs/InGaAs pseudomorphic high electron mobility transistor
著者 (8件):
資料名:
巻: 37  号: 11  ページ: 114003-1-114003-3  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2377A  ISSN: 1674-4926  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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鉛中毒は深刻な環境問題,健康への脅威である。既存技術はいくつかの欠点,それらの適用範囲を制限することを持ち,実時間モニタリングに用いられる。この問題を解決するために,グルタチオンは痕跡量Pb(2+)を検出するための仮像高電子移動度トランジスタ(pHEMT)のAu被覆ゲート領域に官能化した。鉛イオンの正電荷はpHEMTセンサのAuゲート,ソースとドレインの間の電流を増加させるであろうに正電位を引き起こすであろう。Pb(2+)検出のための応答範囲は0.1pmolから10pmol/Lの濃度で決定されている。著者らの知る限り,これは,現在,鉛イオンを検出するための最良の結果。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 
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