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J-GLOBAL ID：201702279412102133   整理番号：17A0364686

ウランの酸化に及ぼすトリウム効果(U_1 xTh_x)O_2(x=0~0 1)薄膜のX線光電子分光法(XPS/UPS)とサイクリックボルタンメトリー(CV)研究【Powered by NICT】

Thorium effect on the oxidation of uranium: Photoelectron spectroscopy (XPS/UPS) and cyclic voltammetry (CV) investigation on (U_1-xTh_x)O₂ (x=0 to 1) thin films

著者 (7件)： Cakir P. (European Commission, Joint Research Centre, P.O. Box 2340, D-76125, Karlsruhe, Germany) ,  Cakir P. (Department of Radiation Science and Technology, Delft University of Technology, Mekelweg 15, 2629, JB Delft, The Netherlands) ,  Eloirdi R. (European Commission, Joint Research Centre, P.O. Box 2340, D-76125, Karlsruhe, Germany) ,  Huber F. (European Commission, Joint Research Centre, P.O. Box 2340, D-76125, Karlsruhe, Germany) ,  Konings R.J.M. (European Commission, Joint Research Centre, P.O. Box 2340, D-76125, Karlsruhe, Germany) ,  Konings R.J.M. (Department of Radiation Science and Technology, Delft University of Technology, Mekelweg 15, 2629, JB Delft, The Netherlands) ,  Gouder T. (European Commission, Joint Research Centre, P.O. Box 2340, D-76125, Karlsruhe, Germany)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 393  ページ： 204-211  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 酸化機構に及ぼすトリウムの影響を理解するためにU_1 xTh_xO_2(0~1)の薄膜を反応性DCスパッタ法により堆積し,X ray/Ultra紫外光電子分光法(XPS/UPS),X線粉末回折(XRD)およびサイクリックボルタンメトリー(CV)によって特性化した。堆積中に,酸化のためのウランとトリウムの間の競合は,トリウムは,酸素に対して非常に高い親和性を持つことを示した。蒸着条件,時間及び温度がこの研究の主題,均一性と膜の安定性を見ることであった。内殻準位と価電子帯スペクトルは堆積時間により変化しなかったが,温度はウランの酸化状態と膜を通しての酸素の移動度の増加による価電子バンドに影響した。X線回折パターン,U_1 xTh_xO_2に対して得られた内殻準位スペクトルと組成は,格子定数はVegard則に従い,U4fおよびTh4fの結合エネルギーと共にバルク化合物で得られた文献データと良く一致することを示した。U_1 xTh_xO_2膜の酸化に及ぼすトリウムの影響を研究するために,空気と接触するNaCl溶液の中性pHでのCV実験を使用した。結果は,トリウムはウランの酸化ピークの電流の減少によって示されるように,ウランの酸化に影響を及ぼすことを示した。XPS測定はCV前後,ウラン-トリウム混合酸化物の表面でのトリウム保護層の長期での形成を支持表面でのウランの程度でトリウムの相対的濃縮を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 移動度 ,  酸素 ,  *トリウム ,  塩化ナトリウム ,  価電子バンド ,  X線回折 ,  *X線光電子分光法 ,  反応性 ,  *サイクリックボルタンメトリー ,  *ウラン ,  キャラクタリゼーション ,  結合エネルギー ,  内殻準位
準シソーラス用語： 混合酸化物 ,  酸化状態 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 薄膜 ,  混合酸化物 ,  電気化学 ,  腐食 ,  アクチニド酸化物

分類 (1件)： 電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (10件)： ウラン ,  酸化 ,  トリウム ,  薄膜 ,  X線光電子分光法 ,  XPS ,  UPS ,  サイクリックボルタンメトリー ,  CV ,  研究