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J-GLOBAL ID：201702282571332009   整理番号：17A0735435

赤外線焦点面不均一性補正ASICチップ設計【JST・京大機械翻訳】

ASIC design of non-uniformity correction for IRFPA

著者 (4件)： SHEN Xiao (Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  DING Rui-jun (Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  LIN Jia-mu (Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  LIU Fei (Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences)
資料名： Jiguang yu Hongwai  (Jiguang yu Hongwai)
巻： 39  号： 7  ページ： 749-752  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2073A  ISSN： 1001-5078  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 本論文は,ASICに基づく赤外線焦点面不均一性補正のための方式を提案した。まず第一に,修正スケーリングと修正アルゴリズムを紹介し,補正効果を検証した。改良されたアルゴリズムは,記憶装置の必要条件を大いに減少させるので,ASICの実用化に非常に適している。次にチップの構造と制御構造を紹介し、最後にチップの実現を紹介した。このチップは0.25ΜMのプロセスを採用し、検出器システムの体積を減少させ、検出器システムの安定性と信頼性を向上させることに対して大きな貢献がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 必要条件 ,  検出器 ,  *赤外線 ,  アルゴリズム ,  信頼性 ,  *ASIC ,  記憶装置
準シソーラス用語： *焦点面 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： IRFPA ,  NUC ,  ASIC

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外線 ,  焦点面 ,  不均一性補正 ,  ASIC ,  設計