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J-GLOBAL ID:201702283000393782   整理番号:17A0471314

高周波マグネトロンスパッタリングにより成長したMgNiO薄膜の構造と光学的性質に及ぼすスパッタリングガス圧の影響【Powered by NICT】

The effect of sputtering gas pressure on the structure and optical properties of MgNiO films grown by radio frequency magnetron sputtering
著者 (7件):
資料名:
巻: 405  ページ: 152-156  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,MgNiO薄膜を,ラジオ周波数(RF)マグネトロンスパッタリングにより石英基板上に成長させた。MgNiO薄膜の結晶性と光学的性質に及ぼす種々のスパッタリング圧力の影響を研究した。X線回折測定では,MgNiO膜は(200)優先配向した立方晶構造であることを示した。UV-vis透過スペクトルは全てMgNiO薄膜は,可視領域で75%以上の透過率を示すと,すべての薄膜の吸収端はソーラーブラインド領域(220nm 280nm)に位置することを示した。MgNiO試料の格子定数とMg含有量をX線回折と透過スペクトルデータを用いて計算した。相分離を,X線回折パターンと透過スペクトルの両方で観察され,相分離は結晶成長理論とスパッタリングプロセスに基づいて詳細に研究した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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光物性一般  ,  酸化物薄膜 

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