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文献
J-GLOBAL ID:201702283189646019   整理番号:17A0959165

X-Slitを用いた光線群サンプリングによる広域BRDF計測

著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  ページ: ROMBUNNO.13  発行年: 2017年06月23日 
JST資料番号: L3479B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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物体表面の反射特性を表すBRDFを計測することは,物体表面への入射光線と反射光線をサンプリングする問題と捉えられる。本論文では,多様な光線のサンプリングを実現できるX-Slitに着目し,これを備えたイメージセンサと面光源を組み合わせたBRDF計測装置を提案する。X-Slitはねじれの関係にある2本のスリットを光線が通過するため,ピンホールのように1点に束縛されず,多様な光線をサンプリングできる。このX-Slitの投影モデルに基づき,スリットのパラメータとサンプリングされるBRDFパラメータとの関係の定式化を行う。X-Slitを用いたBRDF計測をシミュレーションにより評価し,通常のピンホールモデルに比べて広域な計測が実現できることを示す。(著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
システム・制御理論一般  ,  撮像・録画装置 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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